Untuk wafer mono-Si, 158,75mm persegi penuh akan menjadi desain yang paling banyak diadopsi pada paruh kedua tahun ini. Hanya beberapa produsen yang menggunakan wafer yang lebih besar dari ini. LG dan Hanwha Q Cells, misalnya, menggunakan wafer M4 (161,7mm), sementara Longi mempromosikan wafer 166mm.
Full Square Mono Wafer yang canggih telah memaksimalkan paparan cahaya ke tingkat multi wafer yang sama dengan memperluas ukuran persegi. Wafer selalu berbentuk persegi sehingga sesuai dengan modul PV secara optimal.
1 Sifat bahan
Properti | Spesifikasi | Metode Inspeksi |
Metode pertumbuhan | CZ | |
Kristalinitas | Monokristalin | Teknik Etsa Preferensial（ASTM F47-88） |
Jenis konduktivitas | tipe-N | Napson EC-80TPN |
dopan | Fosfor | - |
Konsentrasi oksigen[Oi] | ≦8E+17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Konsentrasi karbon[Cs] | ≦5E+16 at/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Kerapatan lubang etsa (kepadatan dislokasi) | ≦500 cm-3 | Teknik Etsa Preferensial（ASTM F47-88） |
Orientasi permukaan | & lt;100>±3° | Metode Difraksi Sinar-X (ASTM F26-1987) |
Orientasi sisi persegi semu | & lt;010>,<001>±3° | Metode Difraksi Sinar-X (ASTM F26-1987) |
2 Sifat listrik
Properti | Spesifikasi | Metode Inspeksi |
Resistivitas | 0.3-2.1 .cm 1.0-7.0 .cm | Sistem inspeksi wafer |
MCLT (seumur hidup pembawa minoritas) | 1000 s(Resistivitas0.3-2.1 .cm) | Sinton sementara |
3 Geometri
Properti | Spesifikasi | Metode Inspeksi |
Geometri | Kotak penuh | |
Panjang Sisi Wafer | 158,75±0,25 mm | sistem inspeksi wafer |
Diameter Wafer | 223±0,25 mm | sistem inspeksi wafer |
Sudut antara sisi yang berdekatan adjacent | 90° ± 0.2° | sistem inspeksi wafer |
Ketebalan | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sistem inspeksi wafer |
TTV (Variasi ketebalan total) | ≤ 27 µm | sistem inspeksi wafer |
4 Sifat permukaan
Properti | Spesifikasi | Metode Inspeksi |
Metode pemotongan | DW | -- |
Kualitas permukaan | saat dipotong dan dibersihkan, tidak ada kontaminasi yang terlihat, (minyak atau gemuk, sidik jari, noda sabun, noda bubur, noda epoksi/lem tidak diperbolehkan) | sistem inspeksi wafer |
Tanda gergaji / langkah | ≤ 15µm | sistem inspeksi wafer |
Busur | ≤ 40 µm | sistem inspeksi wafer |
Melengkung | ≤ 40 µm | sistem inspeksi wafer |
keping | kedalaman 0.3mm dan panjang 0.5mm Max 2/pcs; tidak ada chip-V | Mata telanjang atau sistem inspeksi wafer |
Retak / lubang mikro | Tidak diperbolehkan | sistem inspeksi wafer |
Tag populer: n tipe 158.75mm monocrystalline solar wafer, Cina, pemasok, produsen, pabrik, buatan China
